SAR ADC系列26：系统设计
目录
串一下知识点：
设计一个高速异步SAR ADC
设计目标：
电路架构：（具体电路看前文）
采样网络：
采样电容：
CDAC开关切换策略：
CDAC阵列冗余设计：
SAR 逻辑
比较器方案：
串一下知识点：
第一章：DFT。每一个做信号链的都应该会懂DFT，怎么仿真，怎么分析，每一根谱线的物理含义这些，每一根谱线都是有来头的，怎么计算得到的。后面引入的相干采样的概念。
第二章：采样网络。上级板采样和下级板采样的优缺点。上级板：简单，和CDAC配合好；但是精度不高，主要体现在沟道电荷和时钟馈通，虽然全差分可以消掉一写，但是消不完全。下级板采样精度高，像开关电容，pipeline ADC很多都采用下级板采样的，有源S/H。然后介绍的一个相当重要的知识点：电荷守恒。见到开关电容就找电荷守恒，找初态终态，这样就不会晕，因为有时中间挺麻烦的。
第三章：CDAC网络。电容的随机失配，可以扩展到电阻、MOS管等所有遵循随机失配高斯分布的器件。数据统计的方法，1sigma什么意义。CDAC开关切换策略，和采样网络的搭配。
第四章：比较器。低速sar ADC的静态Pre-AMP+Latch，失调消除方法OOS、IOS。高速sarADC的Latch比较器。分析方法：将latch拆成好几个等效的放大器，逐个分析每个管子的等效输入offset。可以类推noise的分析。
第五章：sar逻辑。高速异步sar逻辑，和冗余。高速sar逻辑不要被唬住，没什么。主要是冗余，冗余的思想很重要，不光在异步sarADC中。同步sar，pipeline都有。
设计一个高速异步SAR ADC
设计目标：
位数：10bit，采样速率：50MSPS，工艺：SMIC40LL（Low Leakage），电压：1.1V，Vref：电源/地
电路架构：（具体电路看前文）
采样网络：
● 上极板采样：
■ 优点：结构简单
■ 缺点：会引入与信号相关的失真，采样精度有限，一般不超过10Bt精度
●下极板采样：
■ 优点：线性度高，采样精度可以很高
■ 缺点：结构复杂，采样之后的复位动作消耗较大能耗
● 最终方案：上极板采样
采样电容：
● 噪声约束电容：
■ 单端采样网络的噪声：KT/C（是电阻的噪声，只是噪声能用电容表示，数值和电阻无关）
■ 全差分采样网络的噪声：2*KT/C
■ 1pF电容对应的 KT/C 为 ~64uV （典型值可以记下来）
● 匹配约束电容：
■ MSB (~采样电容的一半) 为CDAC线性度的瓶颈
■ 电容越大，匹配越好；电容X4，匹配提升1倍
● 最终方案：自定义mom电容，采样电容（~1pF）
pdk电容单位电容太大，mismatch不可控。定制电容，单位电容可以做的很小，可以区分上下级板，保护好上级板。实际上，我们不是怕寄生，而是怕不知道寄生到哪里去了，用金属包起来，寄生可控，我知道寄生在哪，是什么样的，在设计的时候就能考虑进去。
CDAC开关切换策略：
● 单调开关切换策略：
■ 开始转换时比较器输入共模=AVDD/2，转换过程中比较器输入共模不断降低（或者升高）
■ 比较器输入共模过低会影响Latch比较器的速度、甚至功能。（latch对小信号放大能力较弱，甚至会出现亚稳态，比较时间过长影响到后面的功能，也可能Vcm过低使得比较器不工作了）（看前文latch分析）
● 基于Vcm的开关切换策略：
■ 需要引入一个中间电平VCM=AVDD/2
■ 在先进工艺下，AVDD/2附近的开关不容易实现
● 最终开关切换方案：
■ 采用基于VCM的开关切换策略
■ 采用“电容分裂”技术将一个下极板接到VCM的电容拆分成2个电容
■ 2个分裂电容的下极板分别接到VREF和GND
注意：VDD和GND要加非常大的退耦电容。
CDAC阵列冗余设计：
● 方案一：间隔插入Redundancy
■ 512/256/128/64/64/32/16/8/8/4/2/1
■ 通过观察可得前4次比较拥有相等的冗余量（容错量），为 72LSB；接下来3次比较冗余量为8LSB；最后4次比较不能错
● 方案二：Redundancy逐渐减小
■ 436/250/144/82/48/26/16/10/5/3/2/1
■ 通过观察可得冗余量逐渐减小，看起来分布更加合理
为什么MSB要冗余量留最大呢：因为，MSB电容最大，刚采样完成，Vref建立可能来不及，CDAC又是基于Vref建立的，而且CDAC建立也需要时间，因此会导致比较器判错。再加上Vref buffer上的噪声，比较器噪声等等。
SAR 逻辑
● 异步逻辑：
■ 避免外灌高速时钟：高速时钟工作频率接近GHz
■ 根据每一次比较所花费的时间自动划分比较周期，可以避免时间的浪费，提升转换速率
比较器方案：
● 传统的Pre-AMP+Latch方案：
■ 需要静态功耗，不利于低功耗设计
■ Pre-AMP的 “复位” 难度较大，影响比较器速度
● 动态Latch比较器方案
■ 0静态功耗
■ 可以考虑加入动态Pre-AMP以提升Latch性能
关键电路设计：
采样开关：
● 需要注意的点：
■ 采样NMOS衬偏消除，以提高线性度
■ PMOS衬底的正确接法
■ PUMP电容的取值（相比寄生要足够大）
■ PUMP电容的上下极板的区分
■ PUMP电容可以用MOS电容实现
● 导通电阻的设计：
■ 采样时间：取50MHz的1/4，为5ns
■ 采样开关建立时间：>10*tao，tao<0.5ns
■ 采样电容：C=1pF
■ 采样电阻Ron=tao/C < 0.5ns/1pF = 500欧姆（所有corner）
CDAC网络：
● 需要注意的点：
■ 不同权重的电容下极板的驱动能力的匹配。
■ 尽量标准化设计，“某个单元”的复制，“某个单元”不仅仅包括电容，也包括驱动电路。
■ 10位ADC，全差分需要9个电容，做两个冗余位，总共11个电容。
Latch比较器：
Latch = 0 ，比较器复位至0；Latch = 1 ， 比较器开始比较
异步sar逻辑：Valid产生
异步sar环路：环路启动和结束
异步sar环路：电路实现
异步sar逻辑：CK1~CK12的产生
电路仿真
异步逻辑的仿真
关注以下几个点：
SOC对异步环路的控制
CMPOK对异步环路的控制
功能性仿真：Ramp输入
性能仿真：sin输入
性能仿真：CDAC建立情况
